terça-feira, 16 de agosto de 2011

Metrologia e competitividade: Encontro nacional do Senai debate inovação e normas de segurança de produtos

Todo processo produtivo industrial requer controle e medições. A confiabilidade destes padrões se dá por meio de análises metrológicas, com ensaios laboratoriais ou de calibração. Para chegar ao mercado, qualquer produto, seja um avião ou um berço, precisa passar por esta rede científica de normas de segurança. A Unidade de Inovação e Tecnologia (Unitec), do Senai Nacional, dedica atenção especial à metrologia e é hoje a maior rede privada do país, com mais de 200 laboratórios instalados em todas as regiões, atuando em mais de 15 áreas tecnológicas.


A rede é composta por laboratórios, tanto de calibração quanto de ensaios, acreditados pelo Inmetro e os Ministérios da Agricultura, Pecuária e Abastecimento (Mapa) e do Trabalho e Emprego (MTE), além da Anvisa. “Este reconhecimento formal do governo permite que as empresas busquem, no Senai, a certificação de produtos e processos industriais, com selo de garantia e confiabilidade”, explica o analista Emerson Jeronimo, da Gerência de Certificação de Sistemas e Produtos do Senai Nacional.

A organização investe também na promoção da cultura metrológica no meio científico, industrial e acadêmico. Nesse contexto, promove, a cada dois anos, o Encontro Nacional de Metrologia para Inovação e Competitividade da Indústria. O próximo evento ocorre nesta quarta (17/8), a partir das 9h, na sede do Sistema Fiesc, em Florianópolis. “Difundimos, com eventos assim, a influência estratégica dessa ciência no desempenho das empresas e no desenvolvimento do país”, garante Jeronimo. 

Participarão nesta quarta edição do evento os especialistas João Alziro Herz da Jornada, presidente do Inmetro; Pilar Rodriguez de Massaguer, professora da Faculdade de Engenharia de Alimentos da Universidade de Campinas (Unicamp); Tito Alfredo Shimitt, presidente da empresa Pirâmide Pré-moldados e Mecânica; e Alexandre Braz Negroni, gerente de qualidade da Embraer.

O seminário contará ainda com a participação de Barbara Goldstein, diretora do National Institute of Standards and Technology (NIST), órgão governamental norte-americano com atuação similar ao Inmetro; e Lane Hallenbeck, vice-presidente para serviços de acreditação do American National Standards Institute (Ansi), empresa privada de padronização e metrologia, também dos Estados Unidos. O evento será aberto pelo presidente do Sistema Fiesc, Glauco José Côrte, e reunirá também diretores regionais e nacionais do Senai. As inscrições para o encontro podem ser realizadas nowww.semanadainovacao.com.br.

Conheça a programação:
  • 9h - 9h40 - Abertura
  • 9h40 - 10h25 - Metrologia e Inovação para Aumento da Competitividade da Indústria - Marcos Aurélio de Oliveira;
  • 10h50 - 11h35 - O Uso e a Importância da Microbiologia Preditiva no Estudo da Vida de Prateleira dos Produtos Alimentícios - Pilar Rodriguez de Massaguer;
  • 11h35 - 12h30 - Estabelecer a base para a inovação por meio da ciência da medição, serviços e parcerias industriais - Barbara Goldstein;
  • 14h - 15h - A Construção Civil e o PBQP-h em Santa Catarina - Tito Alfredo Schmitt;
  • 15h - 16h - O Sistema Norte-americano de Normas e Avaliação da Conformidade, a Lei 11-353 e as suas Implicações e Oportunidades para a Indústria Brasileira - Lane Hallenbeck;
  • 16h30 - 17h30 - Metrologia, Inovação e Competitividade na Embraer - Alexandre Braz Negroni;
  • 17h30 - 18h00 – Encerramento.

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